詳細資料：

E8-PMA 貴金屬分析儀是一款高性能專業測試貴金屬的能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF)，其核心光路系統集合國內外幾十年EDXRF*技術，核心部件采用美國進口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術，儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告；E8-PMA采用小光斑設計，多種工作模型供選擇，測試數據*高，穩定性強。

E8-PMA 貴金屬分析儀

產品特點：

外形特點

● 儀器結構采用人體工程學設計，儀器兩側按cheng人手臂長度設計，方便移動、搬運

● 上蓋傾斜6度角，寓意對客戶的尊重

● 表面采用高檔汽車噴漆工藝，采用寶藍、雅致白搭配，藍色代表科技，白色代表圣潔，寓意對科學的敬仰

● 可視化樣品窗

輻射防護 

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

● 輻射標志警示

● 迷宮式結構，防止射線泄漏

● 安全連鎖設計；測試過程中誤打開樣品蓋時，電路0.1μS快速切斷X射線

● 儀器經第三方檢測，X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》

硬件技術

● 超短光路設計：提高樣品分析效率，降低光管功率，延長儀器使用壽命

● 模塊化準直器，根據分析元素，配備不同材質準直器，從而降低準直器對分析元素的影響，提高元素分辨率

● 空氣動力學設計，加速光管冷卻，有效降低儀器內部溫度；靜音設計

● 電路系統符合EMC、FCC測試標準

● 技術快拆樣品盤，更換薄膜更方便

軟件技術

● 分析元素：Na~U之間元素

● 分析時間：180秒

● 軟件界面簡潔，模塊化設計，功能清晰，易操作

● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數據一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能保護用戶數據安全

● HeLeeX ED Workstation V3.0根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準度

● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型

硬件配置：

探測器

● 類型：X123探測器（采用*高性能電致冷半導體探測器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶體面積：25mm2

● zuijia分辨率：145eV

● 信號處理系統DP5

X射線管

● 電    壓 ：0~50kV

● zui大電流 ：2.0mA

● zui大功率 ：50W

● 靶    材 ：Mo

● Be窗厚度 ：0.2mm

● 使用壽命 ：大于2萬小時

高壓電源

● 輸出電壓：0~50kV

● 燈絲電流：0~2mA

● zui大功率：50W

● 紋波系數：0.1%（p-p 8小時穩定性：0.05%

攝像頭

● 微焦距

● 500萬像素

準直器、濾光片

● 快拆卸準直器、濾光片系統

● 多種材質準直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選

● 多種濾光片、準直器組合，軟件自動切換

其他配件

●進口高性能開關電源

●進口低噪聲、大風量風扇

產品規格：

外形尺寸：380 mm x 510mm x 365 mm （長x寬x高）

樣品倉尺寸：360mm×330 mm ×50 mm （長x寬x高）

 儀器重量：33.5kg

 供電電源：AC220V/ 50Hz

 zui大功率：330W

 工作溫度：15-30℃

 相對濕度：≤85%，不結露

應用領域：

貴金屬中金銀銅含量檢測、貴金屬純度檢測、貴金屬回收等領域

●貴金屬中有害元素檢測